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半导体测试仪器

当前页面: 首页 产品 半导体测试仪器 半导体器件CV特性测试
半导体器件CV特性测试

TH510系列

  •  栅极电压VGS:0 - ±40V

     漏极电压VDS:0 - ±3000V

     四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、RgCies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

     一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

     单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

     标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

     CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

     电容快速充电技术,实现快速测试

     接触检查Cont

     通断测试OP_SH

     自动延时设置

     Crss Plus功能:解决高频下Crss负值问题

     高压击穿保护:DS瞬间短路,保护仪器

     Interlock安全锁功能:增加高压防护墙(仅TH513

     Cs-V功能:二极管结电容CV特性测试分析

     等效模式转换功能,可选CsCp模式

     10档分选

  •  栅极电压VGS:0 - ±40V

     漏极电压VDS:0 - ±200V

     四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、RgCies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

     一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

     单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

     标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

     CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

     电容快速充电技术,实现快速测试

     接触检查Cont

     通断测试OP_SH

     自动延时设置

     Crss Plus功能:解决高频下Crss负值问题

     高压击穿保护:DS瞬间短路,保护仪器

     Interlock安全锁功能:增加高压防护墙(仅TH513

     Cs-V功能:二极管结电容CV特性测试分析

     等效模式转换功能,可选CsCp模式

     10档分选

  •  栅极电压VGS:0 - ±40V

     漏极电压VDS:0 - ±1500V

     四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、RgCies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示

     一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件

     单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式

     标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)

     CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描

     电容快速充电技术,实现快速测试

     接触检查Cont

     通断测试OP_SH

     自动延时设置

     Crss Plus功能:解决高频下Crss负值问题

     高压击穿保护:DS瞬间短路,保护仪器

     Interlock安全锁功能:增加高压防护墙(仅TH513

     Cs-V功能:二极管结电容CV特性测试分析

     等效模式转换功能,可选CsCp模式

     10档分选

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