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半导体测试仪器

当前页面: 首页 产品 半导体测试仪器 雪崩能量测试仪
雪崩能量测试仪

雪崩能量测试仪

  •  单通道和双通道 N/P或组合器件测试   (MOSFET、IGBT以及二极管) 

     可测试高达2500V雪崩电压、200A峰值电流等级设备 

     支持单脉冲雪崩测试(EAS)、重复雪崩能量测试(EAR)、 重复脉冲至失效测试(RPF) 

     高速校准DAC可提升测试精度 

     用户可调节的电源电压(10V至150V)稳定可靠 

     漏极、源极接触检查电路可检测20Ω以下的接触电阻,提 供报错提示(LED) 

     可设栅极驱动电压(最大电压差:30V,最大电压值:28V)适 应不同被测件所需 

     可在雪崩前、雪崩后进行可调值的泄漏测试、以确定被测 件当前状态 

     高速固态开关、带故障检测功能 

     高精度的电流和电压波形捕捉以及雪崩持续时间捕捉 

      7寸24位色TF LCD电容式触摸屏,中英文可选操作界面, 用于单机操作、输入测试规格以及提供测试数据显示。 

     提供指令用于用户将屏幕信息存储于U盘 

     仪器有开机自检和在线自检功能、为用户排查仪器内部故 障问题 

     配备简单自动校准程序,用户可现场进行校准 

     配备多种接口:用于远程测试控制的GPIB接口、前后面板各配备一个的高速串行接口、支持高速传输数据的LAN 口。 LAN口不仅可用于远程测试控制,在用户需要观测即时 测试波形时,可使用 LAN口搭配上位机程序查看每一一次 的波形数据

     可与TH530-01 可编程电感负载箱(0.01 至159.9mH)或外部电感器配合使用 

     可外接示波器触发器输出,同步可视化雪崩测试过程,用 于准确测量雪崩时间

  •  单通道和双通道 N/P或组合器件测试   (MOSFET、IGBT以及二极管) 

     可测试高达2500V雪崩电压、200A峰值电流等级设备 

     支持单脉冲雪崩测试(EAS)、重复雪崩能量测试(EAR)、 重复脉冲至失效测试(RPF) 

     高速校准DAC可提升测试精度 

     用户可调节的电源电压(10V至150V)稳定可靠 

     漏极、源极接触检查电路可检测20Ω以下的接触电阻,提 供报错提示(LED) 

     可设栅极驱动电压(最大电压差:30V,最大电压值:28V)适 应不同被测件所需 

     可在雪崩前、雪崩后进行可调值的泄漏测试、以确定被测 件当前状态 

     高速固态开关、带故障检测功能 

     高精度的电流和电压波形捕捉以及雪崩持续时间捕捉 

      7寸24位色TF LCD电容式触摸屏,中英文可选操作界面, 用于单机操作、输入测试规格以及提供测试数据显示。 

     提供指令用于用户将屏幕信息存储于U盘 

     仪器有开机自检和在线自检功能、为用户排查仪器内部故 障问题 

     配备简单自动校准程序,用户可现场进行校准 

     配备多种接口:用于远程测试控制的GPIB接口、前后面板各配备一个的高速串行接口、支持高速传输数据的LAN 口。 LAN口不仅可用于远程测试控制,在用户需要观测即时 测试波形时,可使用 LAN口搭配上位机程序查看每一一次 的波形数据

     可与TH530-01 可编程电感负载箱(0.01 至159.9mH)或外部电感器配合使用 

     可外接示波器触发器输出,同步可视化雪崩测试过程,用 于准确测量雪崩时间

  •  单通道和双通道 N/P或组合器件测试   (MOSFET、IGBT以及二极管) 

     可测试高达2500V雪崩电压、200A峰值电流等级设备 

     支持单脉冲雪崩测试(EAS)、重复雪崩能量测试(EAR)、 重复脉冲至失效测试(RPF) 

     高速校准DAC可提升测试精度 

     用户可调节的电源电压(10V至150V)稳定可靠 

     漏极、源极接触检查电路可检测20Ω以下的接触电阻,提 供报错提示(LED) 

     可设栅极驱动电压(最大电压差:30V,最大电压值:28V)适 应不同被测件所需 

     可在雪崩前、雪崩后进行可调值的泄漏测试、以确定被测 件当前状态 

     高速固态开关、带故障检测功能 

     高精度的电流和电压波形捕捉以及雪崩持续时间捕捉 

      7寸24位色TF LCD电容式触摸屏,中英文可选操作界面, 用于单机操作、输入测试规格以及提供测试数据显示。 

     提供指令用于用户将屏幕信息存储于U盘 

     仪器有开机自检和在线自检功能、为用户排查仪器内部故 障问题 

     配备简单自动校准程序,用户可现场进行校准 

     配备多种接口:用于远程测试控制的GPIB接口、前后面板各配备一个的高速串行接口、支持高速传输数据的LAN 口。 LAN口不仅可用于远程测试控制,在用户需要观测即时 测试波形时,可使用 LAN口搭配上位机程序查看每一一次 的波形数据

     可与TH530-01 可编程电感负载箱(0.01 至159.9mH)或外部电感器配合使用 

     可外接示波器触发器输出,同步可视化雪崩测试过程,用 于准确测量雪崩时间

  •  单通道和双通道 N/P或组合器件测试   (MOSFET、IGBT以及二极管) 

     可测试高达2500V雪崩电压、200A峰值电流等级设备 

     支持单脉冲雪崩测试(EAS)、重复雪崩能量测试(EAR)、 重复脉冲至失效测试(RPF) 

     高速校准DAC可提升测试精度 

     用户可调节的电源电压(10V至150V)稳定可靠 

     漏极、源极接触检查电路可检测20Ω以下的接触电阻,提 供报错提示(LED) 

     可设栅极驱动电压(最大电压差:30V,最大电压值:28V)适 应不同被测件所需 

     可在雪崩前、雪崩后进行可调值的泄漏测试、以确定被测 件当前状态 

     高速固态开关、带故障检测功能 

     高精度的电流和电压波形捕捉以及雪崩持续时间捕捉 

      7寸24位色TF LCD电容式触摸屏,中英文可选操作界面, 用于单机操作、输入测试规格以及提供测试数据显示。 

     提供指令用于用户将屏幕信息存储于U盘 

     仪器有开机自检和在线自检功能、为用户排查仪器内部故 障问题 

     配备简单自动校准程序,用户可现场进行校准 

     配备多种接口:用于远程测试控制的GPIB接口、前后面板各配备一个的高速串行接口、支持高速传输数据的LAN 口。 LAN口不仅可用于远程测试控制,在用户需要观测即时 测试波形时,可使用 LAN口搭配上位机程序查看每一一次 的波形数据

     可与TH530-01 可编程电感负载箱(0.01 至159.9mH)或外部电感器配合使用 

     可外接示波器触发器输出,同步可视化雪崩测试过程,用 于准确测量雪崩时间

可编程电感负载箱

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