TH2883系列产品是同惠研发的脉冲式线圈测试仪产品线。可完整提供低压30V到高压10kV，单通道到多通道（最大8通道）系列线圈测试仪解决方案。

该产品线采用当前主流32bit CPU和高密度 SMD贴装工艺，65k色的7寸宽屏TFT显示器。操作功能简洁易用，显示界面清新亮丽。最低30V，最高10kV涵盖宽范围脉冲电压，低至1uH电感量的线圈测试，高达200Msps的采样率，6k Bytes的存储深度，让您的测试“无微不至”。

TH2883系列根据输出电压不同分为TH2883-1、TH2883-5、TH2883-10三种单通道输出的型号。TH2883-1是低电感脉冲式线圈测试仪，具有最低30V、最高1200V的脉冲电压，可测试低至1uH电感量的线圈，是开关电源等所用电感线圈的理想测试产品。TH2883-5具有100V-5000V的宽范围脉冲电压，是测试各种线圈的标配产品。TH2883-10具有最高10kV的脉冲输出电压，可测试更高绝缘耐压的匝间测试。若配备TH28831匝间绝缘多路扫描仪可将上述三款单通道测试仪扩展为10通道。

TH2883系列还提供了4通道与8通道两款多路测试的一体机，他们所对应的型号分别为TH2883S4-5和TH2883S8-5供用户灵活选择。

TH2883系列产品标配USBHost、RS232C、USB Device和LAN接口，既方便您图形的快速保存，又方便您进行远程控制。

功能特点

A. 线圈性能分析

线圈类产品（如变压器、电机等）由于绕线材料、磁性材料、骨架、加工工艺等因素的影响会产生线圈层间、匝间及引脚间等绝缘性能的降低。TH2883系列脉冲式线圈测试仪通过比较被测线圈的衰减振荡波型与标准波形来判定该绕组的电感、品质因素（Q值）、绕组的圈数差、匝间层间短路，在有导磁材料的情况下还能判断其材质的差别，高压脉冲下电晕放电的发生还可以对绕组层间或多个绕组间绝缘不良进行判定。

图A-1中的自激振荡衰减波形直接和线圈的电感值 L 及品质因素 Q 值有着密切的关系，而 L 值及 Q 值又和线圈的圈数、制造工艺、是否空心线圈并且还与导磁材料特性又有着不可分割的关系。由于施加电压是高压脉冲电压，因此，线圈短路、匝间局部短路或由于绝缘损伤引起的层间或匝间电晕放电现象自然很容易被发现。

B. 四种波形判断方法

a) 面积比较方法

如图 B-1 所示，在任意指定的 A～B 区间内对被测线圈测试波形面积进行(积分)计算，并与标准波形在此区间内的面积进行比较，用这两个波形面积的差异值与标准波形在此区间的面积的百分比作为判定依据，判定基准用百分比来设定。

波形面积近似的与能量损失成正比，所以可以使用面积比较方法来判断线圈中的能量损耗，有效的检测线圈层间和匝间短路。

b) 面积差比较方法

如图 B-2 所示，在任意指定 A～B 区间内对被测线圈测试波形和标准波形的 Y 轴方向的差异值进行计算(积分计算的结果为 A～B 区间内的阴影部分)和标准波形在此区间的面积比较，基准用百分比来设定。

面积差比较方法主要表现了电感量 L 的差异和能量的损耗，这个比较方法可以有效的检测标准线圈和被测线圈的电感量 L 的差异。

c) 电晕比较方法

如图 B-3 所示，与波形的差异无关，在任意指定的 A～B 区间内，仅在被测线圈测试波形包含的电晕放电尖峰中检出高频成分进行无损提取，并将计算结果与设定值进行比较， 判定电晕放电量是否合格，设定值是一个整数。

此方法对线圈内部绝缘性能反应最明显。对于线圈绝缘性能要求高的场合需要使用电晕比较方法，因为绝缘性能的好坏直接影响线圈产品的使用寿命到长短。

d) 相位差比较方法

如图 B-4 所示，用户可以指定一个需要作比较的过零点，仪器判断被测线圈测试波形和标准波形在这个过零点的偏移量，然后和标准波形的振荡周期作比较，并用这两个量的百分比作为判断依据，基准用百分比来设定。如图中，A～B 间是偏移量，C～D 间是标准波形振荡周期，设定的是比较波形的第3个过零点。

此方法主要用来反映电感量差异。线圈不良可以用相位差来判别。

面积比较主要是根据能量损失，能够很有效地进行层间短路和圈对圈的检测，而电晕则是以发现线圈内部绝缘缺陷为目的的检测方法。另外需要考虑电感值问题的话，可以增加面积差来比较判定。

磁芯材料差异可以用面积、面积差和电晕方法来判别。对马达、螺线管、继电器等大部分线圈，采用面积比较和电晕测试方法。

C. 破坏测试功能

通过对线圈施加上升步进电压，结合电晕放电的情况来判断被测件的极限耐压值。

D. 多通道测试

TH2883系列提供4通道与8通道两款多路测试的一体机，他们所对应的型号分别为TH2883S4-5和TH2883S8-5。此外还提供一款将单通道测试仪扩展为10通道的扫描扩展器供用户灵活选择。多路测试仪的应用可以提高对三相四线或三项三线绕组的测试效率，一次测试多个绕组，解决多次切换绕组的烦恼。