■ 测试频率:20Hz-1MHz,分辨率:最高1mHz
■ 基本精度:0.05%
■ 测试速度:最快32ms/次
■ 测试原理:自动平衡电桥
■ 高功率:信号源:20V/100mA(可选)
DC偏置:±40V/100mA(可选)
外部DC BIAS偏置最大可达40A
■ 30 Ω,100 Ω可选信号源输出阻抗
■ 四端对端口配置有效消除测试线电磁耦合
■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能
■ V、I测试信号电平监视功能
■ 10点列表扫描测试功能
■ 图形化扫描分析功能
■ 10档分选功能,分选结果声光报警
■ 存储空间:内置20组设定文件,USB扩展数据记录文件、图片
文件
■ 高兼容性:支持SCPI指令集,兼容KEYSIGHT E4980A、
HP4284A等
TH2828/TH2828A/TH2828S是采用当前国际先进的自动平衡电桥原理研制成功的阻抗测试仪器。其0.05%/0.1%的基本精度、20Hz-1MHz的频率范围及高达100MΩ的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测试要求,特别有利于低D电容器和高Q值电感器的测量。其支持20V交流测试信号和40A直流偏置的高功率测试条件及列表扫描功能将有利于用户扩展元件评价的能力。四段对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响,将低阻抗测试能力的下线比常规五端配置的仪器向下扩展了十倍。
TH2828/TH2828A/TH2828S是电子元件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料(电子材料和非电子材料)的研究和开发提供了强有力的工具。
TH2828/TH2828A/TH2828S以其卓越的性能可以实现商业标准和军用标准如IEC和MIL标准的各种测试。
■ 无源元件
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。
■ 半导体元件
LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
■ 其它元件
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
■ 介质材料
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
■ 磁性材料
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
■ 半导体材料
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:
■ 液晶单元
介电常数、弹性常数等C-V特性
测试参数 | |Z|,|Y|,C,L,X,B,R,G,D,Q,θ,ESR,Rp | |
测试频率 | 20Hz-1MHz,1mHz分辨率 | |
测试电平范围 | 正常:5mV-2V,恒电平:10mV-1V,1mV 步进 | |
输出阻抗 | 30Ω,100Ω可选 | |
基本准确度 | 0.05% | |
显示范围
| |Z|,R,X | 0.00001Ω-99.9999MΩ |
|Y|,G,B | 0.00001μS-99.9999S | |
C | 0.00001pF-9.99999F | |
L | 0.00001μH-99.9999kH | |
D | 0.00001-9.99999 | |
Q | 0.01-99999.9 | |
θ(DEG) | -179.999°-179.999° | |
θ(RAD) | -3.14159-3.14159 | |
△% | -999.999%-999.999% | |
测量时间(≥1kHz) | 快速:32ms, 中速:90ms, 慢速:650ms | |
等效电路 | 串联,并联 | |
量程方式 | 自动,保持 | |
触发方式 | 内部,手动,外部,总线 | |
平均次数 | 1-255 | |
清零功能 | 开路,短路,扫频清零,负载 | |
内部直流偏置源 | 0V,1.5V,2V | |
比较器功能 | 10档分选和档计数功能 | |
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | |
接口 | RS-232C、HANDLER(选件)、USB(选件)、GPIB |